產(chǎn)品產(chǎn)地：美國

測試法：

它可測試高/低溫的PCB銅箔，專為PCB銅箔制造商設(shè)計。該儀器人性化的設(shè)計、堅固耐用的世界首款帶溫度補償功能，以確保測量結(jié)果**而不受銅箔溫度的影響，儀器配有探針防護(hù)罩，確保探針的耐用性；配備探頭照明方便測量時準(zhǔn)確定位。

測定范圍：見如下參數(shù)

分辨率：見如下參數(shù)

測量精度：見如下參數(shù)

樣品體積：見如下參數(shù)

電源：見如下參數(shù)

 英國牛津儀器帶溫度補償功能的面銅測厚儀CMI165

測量溫度：見如下參數(shù)

測定時間：見如下參數(shù)

電池壽命：見如下參數(shù)

防水保護(hù)等級：見如下參數(shù)

產(chǎn)品重量：見如下參數(shù)

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•  膜厚儀
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• L170涂鍍層測厚儀
• 漆膜測厚儀L180
• 美國LEE測厚儀
• L200兩用型測厚儀
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• CMI243 便攜式金屬鍍層測厚儀
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• CMI涂層測厚儀
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