CMI511膜厚儀孔銅測(cè)厚儀
深圳市方源儀器有限公司提供的CMI511膜厚儀孔銅測(cè)厚儀，隸屬英國(guó)牛津儀器產(chǎn)品CMI系列，生產(chǎn)于美國(guó)。CMI511膜厚儀孔銅測(cè)厚儀由中國(guó)大陸總代理深圳市方源儀器有限公司代為銷售供應(yīng)。CMI系列獨(dú)有的溫度補(bǔ)償特性使其能夠在電鍍過(guò)程中進(jìn)行厚度測(cè)量，從而降低廢料、返工成本。和我們的所有產(chǎn)品一樣，CMI511在售前和售后都能夠得到牛津儀器上等服務(wù)的保證。
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產(chǎn)品名稱
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CMI511膜厚儀孔銅測(cè)厚儀
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型號(hào)
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CMI511
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品牌
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英國(guó)牛津儀器Oxford
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用途
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用于侵蝕工序前、后，測(cè)量孔內(nèi)鍍層厚度。獨(dú)特的設(shè)計(jì)使CMI500能夠完全勝任對(duì)雙層或多層電路板的測(cè)量，甚至可以穿透錫和錫/鉛抗蝕層進(jìn)行測(cè)量。
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測(cè)試原理
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應(yīng)用電渦流測(cè)試技術(shù)。測(cè)量時(shí)利用探頭釋放出電磁波，當(dāng)磁場(chǎng)切割金屬層時(shí)會(huì)發(fā)生磁場(chǎng)變化，通過(guò)計(jì)算此變化量計(jì)算出孔壁銅厚度。
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測(cè)量范圍
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1-102μm（0.08 – 4.0 mils ）
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測(cè)量精度
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1 .01 mil (.25um)<1 mil
(25um) 1 5% >1 mil (25umm)
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分辨率
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0.01 mils (0.1μm)
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探頭
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ETP孔銅探頭
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單位
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以按鍵切換公制(um)及英制(mils)單位選擇
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統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示
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量測(cè)點(diǎn)數(shù)、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差、*高值、*低值、由打印機(jī)可輸出直方圖或CPK圖
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接口
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RS-232連接阜，用于將數(shù)據(jù)傳輸至計(jì)算機(jī)或打印機(jī)
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顯示
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高亮度液晶顯示屏，1/2英吋(1.27mm)高
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按鍵
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密封膜，增強(qiáng)-16鍵
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重量
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9OZ(0.26Kg)含電池
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外型尺寸
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149*794*302 mm
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電池
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9伏干電池或可充電電池
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產(chǎn)地
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美國(guó)
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產(chǎn)品示意圖：
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